NanoCalc DUV Aufbau

Name: Kapatek
Address: Werner-Gebhardt-Weg 11, Dietramszell, 83623, DE
Telephone: +49 (0) 8027 904211
Price range: $$

Spezifikation:

Wellenlänge:190 nm - 1100 nm
Schichtdicken Bereich:1 nm - 100 μm
Auflösung:0,1 nm
Wiederholbarkeit:0,3 nm
Einfallswinkel:90°
Anzahl der Schichten:bis zu 10
Brechungsindex:Ja
Schichtdicke von:transparenten oder semitransparenten Materialien
Referenz erforderlich:Ja
Messmodus:Reflexion und Transmission
Raue Materialien:Ja
Messgeschwindigkeit:100 ms bis 1 s
Online-Möglichkeiten:Ja
Arbeitsabstand (Höhe):
1,5-3 mm, bis zu 50 mm mit Kollimation (COL-UV-6.35)
Spotgröße:
Standard ist 200 μm oder 400 μm, 100 μm auf Anfrage
Mikrospot:Ja, in Kombination mit einem Mikroskop
Scanning Option:Ja, auf Anfrage
Verbindung zum PC:USB 2
Anzahl der Spektrometer:1 oder 2
Spezifikation

FFT Analyse mit erweiterter Mathematik: Schichtdicke eines SU8 Layers, Schichtdicke ist 11,8µm.

Windows 10, Windows 7	32 bit
Adaption to smaller monitors	no
User interface: result and Notepad chart	.
Recipe management by function keys; F1, F2 etc.	No
Fast buttons	No
Change font sizes International languages (French, German etc.)	No
Data for extended wavelength: from 200 nm – 2500 nm	No
Sliders for thickness and N&K values	No
Automatic curve scaling	No
Adjustable extraction bar	No
FFT analysis , enhanced mathematics	No

Windows 10, Windows 7	64 bit
Adaption to smaller monitors	Yes
User interface: result and Notepad chart	Notepad with export to Excel
Recipe management by function keys; F1, F2 etc.	Yes
Fast buttons	Yes
Change font sizes International languages (French, German etc.)	Yes
Data for extended wavelength: from 200 nm – 2500 nm	Yes
Sliders for thickness and N&K values	Yes
Automatic curve scaling	Yes
Adjustable extraction bar	Yes
FFT analysis , enhanced mathematics	Yes