Schnelle Analyse
Von transparenten und semitransparenten Schichten auf Substrat, Schichtdickenbereich: < 10nm bis 250µm
Bestimmung
der Schichtdicke und deren optische Eiegenschaften n & k , EMA Modelle etc.
Simulation
und Messung von Multilayer Schicht Systemen, bis zu 10 Schichten simultan.
KaPatek ist ein Hersteller von optischen Schichtdicken Messsystemen basierend auf dem Meßprinzip der spektroskopischen Reflektometrie.
Seit mehr als 25 Jahren beschäftigen wir uns mit optischen Dünnfilm Messystemen zur Schichtdickenmessung von optisch transparenten und semitransparenten Schichten und bieten unseren Kunden Komplettlösungen für die Qualitätskontrolle im F&E Bereich und in der Produktion. Die spektroskopische Reflektometrie ist ein sehr schnelles, nichtzerstörendes und hoch präzises Dünnfilm Meßverfahren, geeignet für Ex- und Insitu Anwendungen.
Mit unseren NanoCalc Reflektometer Dünnfilm Meßsystemen erfüllen wir all diese Kriterien und bieten unseren Kunden einfach zu bedienende, hochgenaue und preislich sehr günstige Meßtools für Metrologieanwendungen.
NanoCalc Produkte
NanoCalc VIS Aufbau
USB2000+ VIS Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...NanoCalc XR Aufbau
USB2000+ XR Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, DH-2000-BAL Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...NanoCalc NIR Aufbau
NIR-Quest Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...NanoCalc DUV Aufbau
Maya-Pro Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...NanoCalc KOMBI XR-NIR Aufbau
STS Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, LED- Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...NanoCalc STS(VIS/UV/NIR) Aufbau
Doppelspektrometer: USB2000+XR u.NIR-Quest Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, DH-2000-BAL Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)
Mehr...FAQs
Die Lieferung der Software erfolgt über ein Speichermedium oder per Download.
Man kann die optische Dicke (geometrische Dicke x Brechungsindex) bestimmen, wenn man den Brechungsindex perfekt kennt.
Die NanoCalc Vollversion arbeitet nur in Verbindung mit einem Ocean Insight Spektrometer, wie Falme-T, Maya Pro, NIRQuest etc.
Vorsicht: bei dicken Schichten hat die Schicht selbst i.a. eine Dickenvariation, die weit höher liegt.
Der Arbeitsabstand beträgt 2 bis 5 mm.
Allerdings sollte man hier Objektive mit genügend kleiner Apertur und Vergrößerung nehmen, damit die Bedingung des senkrechten und parallelen Lichteinfalls noch gewährleistet sind.
Hier geht es zu den Nancalc Tutorials.